ГОСТ 28624-90. Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы
ГОСТ 28624-90. Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы
Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы.
ВВЕДЕНИЕ
Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».
Настоящий стандарт устанавливает групповые технические условия на дискретные приборы (исключая оптоэлектронные приборы) в рамках Системы сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).
Более подробную информацию можно найти в отчете о голосовании, указанном в данной таблице.
Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Публикации, являются номером технических условий в Системе сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).
1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
Настоящие групповые технические условия (далее — ТУ) распространяются па полупроводниковые дискретные приборы (далее — приборы), за исключением оптоэлектронных приборов.
2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
Настоящие групповые ТУ должны применяться совместно с соответствующими общими ТУ стандарта МЭК 747—10 (ГОСТ 28623).
В настоящих групповых ТУ установлен порядок сертификации, требования контроля, программы отбраковочных испытаний, требования выборочного контроля, порядок испытаний и измерений, необходимых для подтверждения соответствия приборов заданному уровню качества.
2.1. Используемые документы
СТ МЭК 747—10 (ГОСТ 28023) «Полупроводниковые приборы. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы».
2.2. Рекомендуемые значения температур (предпочтительные значения)
Рекомендуемые значения температур установлены в СТ МЭК 747—1, глава VI, разд. 5 (ГОСТ *).
