Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».
Настоящий стандарт устанавливает групповые технические условия на дискретные приборы (исключая оптоэлектронные приборы) в рамках Системы сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).
Более подробную информацию можно найти в отчете о голосовании, указанном в данной таблице.
Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Публикации, являются номером технических условий в Системе сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).
Настоящие групповые технические условия (далее — ТУ) распространяются па полупроводниковые дискретные приборы (далее — приборы), за исключением оптоэлектронных приборов.
Настоящие групповые ТУ должны применяться совместно с соответствующими общими ТУ стандарта МЭК 747—10 (ГОСТ 28623).
В настоящих групповых ТУ установлен порядок сертификации, требования контроля, программы отбраковочных испытаний, требования выборочного контроля, порядок испытаний и измерений, необходимых для подтверждения соответствия приборов заданному уровню качества.
2.1. Используемые документы
СТ МЭК 747—10 (ГОСТ 28023) «Полупроводниковые приборы. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы».
2.2. Рекомендуемые значения температур (предпочтительные значения)
Рекомендуемые значения температур установлены в СТ МЭК 747—1, глава VI, разд. 5 (ГОСТ *).